超解像共焦点レーザー顕微鏡システム AX
Super-resolution confocal laser microscope system AX
設置機器メーカー/型式 Equipment
Nikon/AX with NSPARC
仕 様 Specs
- レーザー光源 Laser source
405nm ,445nm, 488nm, 514nm, 561nm, 640nm, 730nm
- スキャナー scanner
ガルバノスキャナー(最大8192×8192画素)
FOV25
Galvano scanner (maximum 8192 x 8192 pixels)
- 検出器 Detector
高感度GaAsP検出器 3ch
IR領域高感度GaAsP検出器 1ch
透過ディテクタ 1ch
超解像イメージング用 高S/N検出器(SPPC) 1ch
High sensitivity GaAsP detector 3ch
IR region high sensitivity GaAsP detector 1ch
Transmission detector 1ch
High S/N detector (SPPC) for super resolution imaging 1ch
- 対物レンズ Objective lens
x4, x10, x20, x40, x60(水浸 water immersion)
- software
NIS-Elements C ER
設置場所 Location
蛍光顕微鏡室(410号室)
Fluorescence Microscope Lab (CRL 4th floor, Room #410)
担当者 Contact person
福永 祥子(Sachiko Fukunaga)(TEL 2303)
岡本 久美(Kumi Okamoto)(TEL 2302)
山元 武文(Takefumi Yamamoto)(TEL 2304)
学内向け SUMS only
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Last Updated 2022/11/01