エックス線回折装置は、単結晶または粉末試料による回折エックス線の回折角および回折強度を記録する装置で、結晶構造の解析や、デバイ-シェラー法による未知化学試料の同定、分析に用いられます。
An X-ray diffractometer is a device that records the diffraction angles and intensities of X-rays diffracted by single-crystal or powder samples; it is used for analyzing crystal structures and for identifying and analyzing unknown chemical samples using the Debye-Schiller method.

設置機器メーカー/型式　Equipment

Philips/PW-1830

仕　様　Specs

ゴニオメータ Goniometer
　設定再現性 Setting reproducibility：　± 0.001゜2θ
　スキャンレンジ Scan range：　0 - 160゜
　ステップスキャン Step Scan：　0.005 - 160゜2θ
　試料位置再現性 Sample Position Repeatability：　±10 μm

高圧発生装置 High-voltage generator
　最大出力 Max output：　3.0 kW
　電圧範囲 Voltage range：　10 - 60 kV
　電流範囲 Current range：　10 - 60 mA

Ｘ線管球 X-ray tube
　陽極ターゲット Anode target：　Cobalt and Copper
　高出力ファインフォーカス High-Power Fine Focus
　最大負荷 Max load：　1800 W
　定格 Rated：　60 kV

設置場所　Location

実験実習支援センター　１階　エックス線照射室（116号室）
CRL 1st floor, Room #116

担当者　Contact person

山元　武文（Takefumi Yamamoto）（TEL 2304）
福永　祥子（Sachiko Fukunaga）（TEL 2303）
岡本　久美（Kumi Okamoto）（TEL 2302）

学内向け　SUMS only

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