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第49回支援センターテクニカルセミナー


11月企画「シリーズ・最新のプレートリーダー」(6)
世界初、ハイブリッドテクノロジーによる光学システムの進化

セミナー

日 時:平成20年11月18日(火)14:30〜16:15

場 所:基礎研究棟2階 教職員ロビー及び分光分析室

プログラム

14:30〜14:35 挨拶、ガイダンス
14:35〜15:35 ハイブリッドテクノロジー搭載マルチプレートリーダーパワースキャンの
            先進システムの紹介とアプリケーション説明
15:45〜16:15 パワースキャンの実機を用いた測定

デモ

11月18日(火)14:30 〜11月20日(木)17:00
  全日、14時から17時まで担当者が機器の前に待機致します。
 (18日は、セミナー、デモンストレーション後の対応となります)

概要

 業界初、ハイブリッドテクノロジー搭載で蛍光測定用として、干渉フィルターとダブルグレーティングモノクロメーターシステムの2種類の光学システムを1台に搭載し、アプリケーションに最適な光学システムを選択するとこを可能とした先進テクノロジーです。また、吸光・蛍光・TRF・蛍光偏光・発光測定対応で様々なアプリケーションに対応可能にしました。


このセミナーは大学院の講義(実習・演習系)として認定されています。


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Last Updated 2008/11/5