セミナー

日　時：平成２０年１１月１８日（火）１４：３０〜１６：１５

場　所：基礎研究棟２階　教職員ロビー及び分光分析室

プログラム

１４：３０〜１４：３５　挨拶、ガイダンス
１４：３５〜１５：３５　ハイブリッドテクノロジー搭載マルチプレートリーダーパワースキャンの
　　　　　　　　　　　　先進システムの紹介とアプリケーション説明
１５：４５〜１６：１５　パワースキャンの実機を用いた測定

デモ

１１月１８日（火）１４：３０　〜１１月２０日（木）１７：００
　　全日、１４時から１７時まで担当者が機器の前に待機致します。
　（１８日は、セミナー、デモンストレーション後の対応となります）

概要

　業界初、ハイブリッドテクノロジー搭載で蛍光測定用として、干渉フィルターとダブルグレーティングモノクロメーターシステムの２種類の光学システムを１台に搭載し、アプリケーションに最適な光学システムを選択するとこを可能とした先進テクノロジーです。また、吸光・蛍光・TRF・蛍光偏光・発光測定対応で様々なアプリケーションに対応可能にしました。